一、機械雜質測定儀操作前準備:
1.儀器檢查與校準
清潔度確認：確保測定儀的進樣系統、傳感器、管路等部件無殘留污染物，必要時用溶劑（如石油醚、乙醇）清洗并干燥。
校準標定：
使用標準樣品（已知雜質濃度）進行校準，調整儀器參數（如光散射強度、閾值設定）。
對于光學式儀器（如激光散射法），需校準光源強度和探測器靈敏度。
對于稱重法（如濾膜法），提前校準電子天平（精度至少0.1mg）。
2.樣品預處理
均勻性處理：若樣品為懸浮液或黏稠液體，需充分攪拌或超聲振蕩，確保雜質均勻分布。
溫度控制：將樣品恢復至室溫（避免溫差導致密度變化影響結果），或按標準要求加熱/冷卻至指*溫度。
過濾或稀釋：若雜質濃度過高，按標準比例稀釋樣品；若采用濾膜法，選擇合適孔徑的濾膜。
二、機械雜質測定儀數據記錄與結果驗證
1.記錄內容
樣品名稱、批號、測試日期、環境條件（溫度、濕度）。
儀器型號、參數設置、校準信息。
原始數據（如濾膜重量、散射光強度、顆粒計數）。
2.結果驗證
平行實驗：對同一樣品進行多次測試，相對偏差應小于10%（具體依標準要求）。
對照實驗：定期用標準樣品驗證儀器準確性，偏差超出允許范圍時需重新校準。
異常值處理：剔除明顯偏離的異常數據（如操作失誤導致的污染），并記錄原因。
三、機械雜質測定儀儀器維護與常見故障排除
1.日常維護
關閉儀器前清洗管路和傳感器，定期檢查濾膜、光源、探測器等易損件。
長期停用時需覆蓋防塵罩，并定期開機預熱（防止電子元器件受潮）。
2.故障處理
光學儀器信號異常：檢查光源老化、透鏡污染或比色皿劃痕。
稱重法誤差大：確認濾膜烘干是否完*、天平校準是否失效。
顆粒計數器誤判：檢查樣品氣泡、傳感器窗口清潔度或閾值設定。
